業(yè)務(wù)部
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特點(diǎn)：
儀器成套組成：由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專用探頭，也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
方塊電阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直 徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm。
SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級(jí)
|
量程（Ω-cm/□） |
2.000 |
20.00 |
200.0 |
2.000k |
20.00k |
|
電阻測(cè)試范圍 |
0.010～2.200 |
2.000～22.00 |
20.00～220.0 |
0.200～2.200k |
2.000～50.00k |
|
電阻率/方阻 |
0.010/0.050～2.200 |
2.000～22.00 |
20.00～220.0 |
0.200～2.200k |
2.000～20.00k/100.0k |
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基本誤差 |
±1%FSB±2LSB |
±2%FSB±2LSB |
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4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重：≤0.3kg
